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高度计

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型号:SJ217
SJ217高度计是是针对众多工业应用领域及检测机构进行设计的大量程、高精度的测量设备。本仪器采用高精度进口光栅作为测量基准,遵循阿贝原则,按照机械稳定性和热稳定性最好的原则设计而成,因此具有测量精度高、性能稳定、重复性好等特点。SJ217高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域,对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行快速、准确的测量。

产品详情

结构原理

  本仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。

SJ217高度计采用高精度光栅,即玻璃基体的增量式光栅尺作为测量基准,所以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感,并具有确定的稳定特性。

  增量光栅尺的扫描方法为光电扫描,因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距,从而确保一个信号周期内微小位置误差。

性能特点

1)测量精度高(高精度进口光栅、高精度导轨);

2)可靠性好(经过10万次重复性实验);

3)检测速度快:快速检测、示值稳定;

4)校准方便;

5)采用密珠导轨的测量杆能够承受很高的径向力且运动摩擦力极小;

6)应用广泛,自动检测设备、手动测量或定位设备-无论是长度、间距、高度、厚度或直线位移都可以快速、准确和可靠的测量。